现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 (39) 接口是IC 芯片测试的标准接口。
A．BIST
B．JTAG
C．UART
D．USB
参考答案：B
函数f（x）=ax2-（5a-2）x-4在[2，+∞）上是增函数，则a的取值范围是______．
分层抽样法的缺点是（）。
A.总体会发生周期性变化的场合，不宜使用这种抽样的方法
B.抽样手续较简单随机抽样还要复杂些
C.误差大
D.代表性差
