在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）

A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大

B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大

C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小

D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小