易栓症可能引起的原因是（）
A.AT缺陷
B.PC缺陷
C.APC抵抗
D.PAI-1减少
E.HC-Ⅱ缺陷
参考答案：A, B, C, E
适应
常用的非破坏性试验有（）。
A.绝缘电阻和吸收比测量
B.直流泄漏电流测量
C.绝缘介质损耗角正切值测量
D.工频耐压试验
