参考答案：

1）缺陷回波法不便实施，要求检出灵敏度较低的场合；

2）工件厚度不大，形状简单，探测面与底面平行的场合；

3）有时作为辅助手段，配合缺陷回波法或底面回波高度法判定缺陷情况。