问题
多项选择题
X线头影测量的主要应用有（）
A.可研究颅面生长发育
B.可对牙
、颅面畸形作诊断分析
C.可确定错畸形的矫治设计
D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
答案
参考答案：A, B, C, D, E
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X线头影测量的主要应用有（）
A.可研究颅面生长发育
B.可对牙、颅面畸形作诊断分析
C.可确定错畸形的矫治设计
D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
参考答案：A, B, C, D, E