问题 单项选择题

近表面下的缺陷用哪种方探测最好()

A.后乳化型渗透法

B.着色渗透法

C.水洗型荧光渗透法

D.以上方法均不能探测近表面下的缺陷

答案

参考答案:D

单项选择题
单项选择题