H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）
A.这30天所有的数据点都落入控制限范围内
B.X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足GR&R要求
C.S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足P/T要求
D.对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异
