常用的标准化的PADL评定方法不包括（）

A.Barthel指数

B.FIM

C.Katz指数

D.PULSES

E.修订的Kenny自理评定

在由n型半导体组成的MIS结构上加栅电压V_G，分析其表面空间电荷层状态随V_G变化的情况，画出其C-V曲线并解释之。