问题 单项选择题

沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。

A.不会影响成品率

B.晶圆缺陷

C.成品率损失

D.晶圆损失

答案

参考答案:C

单项选择题 A1/A2型题
单项选择题