问题 多项选择题

二氧化硅薄膜厚度的测量方法有()。

A.比色法

B.双光干涉法

C.椭圆偏振光法

D.腐蚀法

E.电容-电压法

答案

参考答案:A, B, C, D, E

多项选择题
单项选择题