二氧化硅薄膜厚度的测量方法有（）。A.比色法 B.双光干涉法 C._爱下问搜题

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问题多项选择题

二氧化硅薄膜厚度的测量方法有（）。

A.比色法

B.双光干涉法

C.椭圆偏振光法

D.腐蚀法

E.电容-电压法

答案

参考答案：A, B, C, D, E

判断题

甲状舌管囊肿MRI检查，囊肿呈长T₁、长T₁特点，T₁WI均匀低信号，T₂WI高信号。（）

填空题

溢式模没有配合，凸模与凹模在（）水平接触。