问题
问答题
采用Cu的ka(λ=0.1542nm)测得Cr的X射线衍射谱为首的3条谱线2θ=44.4°，64.6°和81.8°，若(bcc)Cr的晶格常数a=0.2885nm，试求对应这些谱线的密勒指数。
答案
参考答案：根据公式[*]
若2θ=44.4°，则
[*]
故此平面为(110)，或[*]或(101)或[*]或(011)或[*]。
若2θ=64.6°，则
[*]
故知此平面为(200)，或(020)或(002)。
若2θ=81.8°，则
[*]
故此平面为(112)，或[*]或(211)或[*]。