用量具测量正在（）的工件测量面会很快磨损
A、震动
B、旋转
C、摆动
D、以上三项
参考答案：D
设有下列二叉树：
对此二叉树中序遍历的结果为
A．ABCDEF
B．DAECF
C．BDAECF
D．DBEFCA
下图甲示缩手反射相关结构，图乙是图甲中某一结构的亚显微结构模式图。据图回答下面的问题：
乙图中的①是神经元细胞的（），B是神经元细胞的（）；
