面缺陷
参考答案：
其特征是在一个方向尺寸上很小，另外两个方向上扩展很大，也称二维缺陷，晶界、相界、孪晶界和堆垛层错都属于面缺陷。
MIC是（）.
A.最大抑菌浓度
B.最小抑菌浓度
C.最大杀菌浓度
D.最小杀菌浓度
E.敏感
影响发酵过程需氧和供氧的主要因素有哪些？
