特征X射线可用于对材料进行哪两方面的分析？
参考答案：特征X射线谱可用于元素分析和电子探针X射线显微分析的依据。
位于上腭硬区之后，软腭颤动线之前，两端弯至第一、二磨牙之间（）
A.侧腭杆
B.后腭杆
C.前腭杆
D.舌杆
E.腭板
在历史记录面板中，按下新建的按钮会产生（）
A、瞬态图
B、历史快照
C、新快照
D、动作
