问题 单项选择题

一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。

A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验

答案

参考答案:B

解析: “寿命试验”是指进行破坏性试验后无法实现对该样品进行重复检验,而且一般都丧失了原有的使用价值。通常,这一类型试验基本都属于破坏性检验。

多项选择题
单项选择题