下列哪一项可消除断层厚度伪像（部分容积效应）：
A．高频超声探头
B．超宽频或变频探头
C．相控阵式探头
D．环阵式探头
E．以上均不可能
参考答案：E
征免性质栏应填______。
A．一般贸易
B．来样加工
C．一般征税
D．FOB
氮洗分子筛吸附是不可逆的过程。
