问题 多项选择题

测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。

A.整体受潮

B.整体劣化

C.小体积试品的局部缺陷

D.大体积试品的局部缺陷

答案

参考答案:A, B, C

多项选择题
单项选择题