问题 单项选择题

使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()

A.小于实际尺寸

B.接近声束宽度

C.稍大于实际尺寸

D.等于晶片尺寸

答案

参考答案:B

单项选择题 案例分析题
解答题