问题 单项选择题

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

A.近场干扰

B.材质衰减

C.盲区

D.折射

答案

参考答案:C

选择题
单项选择题