问题 单项选择题

提高近表面缺陷的探测能力的方法是()

A、用TR探头

B、使用窄脉冲宽频带探头

C、提高探头频率,减小晶片尺寸

D、以上都是

答案

参考答案:D

单项选择题 A1型题
单项选择题