问题
单项选择题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A、测定斜探头K值
B、测定直探头盲区范围
C、测定斜探头分辨力
D、以上全是
答案
参考答案：C
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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A、测定斜探头K值
B、测定直探头盲区范围
C、测定斜探头分辨力
D、以上全是
参考答案：C