用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。

A、面积大的，当量也一定大

B、面积大的，当量不一定比面积小的大

C、面积大的，当量反而比面积小的小

D、相等