问题
单项选择题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨率
D.以上全部
答案
参考答案：A
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CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨率
D.以上全部
参考答案：A