问题 单项选择题

CT成像的依据是

A.横断面图像观察的特性
B.X线的吸收衰减特性
C.探测器的模数转换功能
D.多幅照相成像原理
E.多方位成像技术

答案

参考答案:B

解析: CT成像是利用X线的衰减特性,这一过程与X线的基本特性有关。

单项选择题
填空题