准直器选择不当、能窗设置不当、采集计数不足或过多、图像采集时间不正确、双核素同时采集时的交叉干扰、SPECT断层采集时步幅过大、数据处理时前滤波处理不当、截止频率过高或过低、计算机程序错误、色阶或辉度范围设置不当所产生的伪影为哪种原因所致（）。

A.受检者的原因

B.来自放射性核素显像剂的原因

C.来自机械性的原因

D.来自显像技术方面的原因

E.其他原因

剩余电流动作型保护装置就是通常说的漏电保护装置。