参考答案：

用途：缺陷检测，尺寸测量，装配结构分析，密度分布表征。

优点：能给出检测构件断层扫描图像和空间位置、尺寸、形状、成像直观；分辨率高；不受试件几何结构限制。

局限性：设备成本高。