放射自显影技术探测射线的依据是（）

A.电离作用

B.荧光现象

C.感光效应

D.光电效应

E.康普顿效应

精密度反映了分析方法或测量系统存在（）的大小

A.操作误差

B.偶然误差

C.系统误差

D.过失误差