HIE患儿中，当缺氧为完全性，其脑损伤最常见的部位是()
A．大脑皮质
B．脑室周围
C．脑室
D．小脑
E．丘脑、脑干
参考答案：E
在焊条药皮中加入电离电位低的物质，可以降低电弧气氛的电离电位，因而能（）电弧的稳定性。
A.降低
B.提高
C.保持
D.稍稍降低
