在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。
A、消除颗粒效应
B、便于压片
C、消除元素效应
参考答案：A
以下说法正确的是（）。
A.A.FC.一直大于A.VC.
B.A.C.曲线与A.VC.曲线同时达到最低点
C.A.FC.曲线随MC.曲线的上升而上升
D.A.C.曲线与A.VC.曲线之间距离越来越小
近年对妊高征病因的研究有何进展?试举两种说明?
