X线头影测量的主要应用有

A．可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析

B．可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化

C．可确定错骀畸形的矫治设计

D．可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

E．可研究颅面生长发育