地籍平面控制测量以及地籍细部测量的技术总结不包括( )。

A．坐标系统的选择，控制点标志埋设深度与方法，测量经验与建议

B．权属调查方案

C．采用的仪器设备及其验校情况、实施情况、平差方法及精度评定等

D．界址点测定方法、制作地籍图的方法、内容的取舍标准、图的分幅与编号等

何谓大分子结合修饰？有何作用？