我们说能用指针式万用表R×1和R×10KΩ档对二极管进行检测。

在MgO晶体中，肖特基缺陷的生成能为9.612×10^-19J。如果在MgO晶体中含有百万分之一的Al₂O₃杂质，则在1600℃时，MgO晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势？(k=1.38×10^-23)。