《思想的酝酿》的作者是下面哪一位？（）

A.詹姆斯·哈维·罗宾逊

B.乔布斯

C.比尔盖茨

D.巴菲特

可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.

A.绝缘受潮缺陷

B.贯通性绝缘缺陷

C.绝缘老化缺陷

D.绝缘气隙放电缺陷