问题
多项选择题
BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数（设备故障）可能的原因包括（）
A.GMC2单板问题
B.GOPT单板问题
C.GLAP单板问题
D.GFBI单板问题
答案
参考答案：A, B, D
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BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数（设备故障）可能的原因包括（）
A.GMC2单板问题
B.GOPT单板问题
C.GLAP单板问题
D.GFBI单板问题
参考答案：A, B, D