问题 单项选择题

电子元器件的寿命试验属于( )。

A.全数检验

B.破坏性试验

C.最终检验

D.流动检验

答案

参考答案:B

解析: 破坏性检验是指将被检样品破坏(如在样品本体上取样)后才能进行检验;或者在检验过程中,被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括:①零件的强度试验;②电子元器件的寿命试验;③电器产品的周期湿热试验;④纺织品或材料的强度试验等等。

多项选择题
单项选择题