问题 单项选择题

在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。

A.0.001mm

B.0.002mm

C.0.003mm

答案

参考答案:B

单项选择题
选择题