问题 单项选择题

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

A.球面干涉

B.等倾干涉

C.等厚干涉

答案

参考答案:C

单项选择题
多项选择题